LCP-27 Difraktsiya intensivligini o'lchash

Qisqa Tasvir:

Mahsulot detali

Mahsulot teglari

Tavsif

Eksperimental tizim asosan bir nechta qismlardan iborat, masalan, eksperimental yorug'lik manbai, difraksion plastinka, intensivlikni yozuvchi, kompyuter va ishlash dasturlari. Kompyuter interfeysi orqali eksperimental natijalar optik platforma uchun qo'shimcha sifatida ishlatilishi mumkin, shuningdek, uni faqat tajriba sifatida ishlatish mumkin. Tizimda yorug'lik qizg'inligini va yuqori aniqlikdagi joy o'zgartirish sensorini o'lchash uchun fotoelektrik sensor mavjud. Panjara o'lchagichi siljishni o'lchashi va difraktsiya intensivligining taqsimlanishini aniq o'lchashi mumkin. Kompyuter ma'lumotlarni yig'ish va qayta ishlashni boshqaradi va o'lchov natijalarini nazariy formula bilan taqqoslash mumkin.

Tajribalar

1. Bitta yoriq, ko'p tirqishli, g'ovakli va ko'pburchakli difraksiyani sinash, eksperimental sharoitda difraktsiya intensivligi qonuni o'zgaradi.

2.Yagona yoriqning nisbiy intensivligi va intensivligini taqsimlashini qayd etish uchun kompyuter, bitta yoriqning difraksiyasining kengligi esa bitta yoriqning kengligini hisoblash uchun ishlatiladi.

3. Ko'p tirqishli, to'rtburchaklar teshiklar va dumaloq teshiklar difraksiyasining intensivligini taqsimlanishini kuzatish

4. Yagona yoriqning Fraunhofer difraksiyasini kuzatish

5. Yorug'lik intensivligining tarqalishini aniqlash

Texnik xususiyatlari

Mahsulot	Texnik xususiyatlari
He-Ne lazer	> 1,5 mVt @ 632,8 nm
Yagona yorilgan	0,01 mm aniqlik bilan 0 ~ 2 mm (sozlanishi)
Rasmni o'lchash diapazoni	0,03 mm yoriq kengligi, 0,06 mm oraliq oralig'i
Projektiv mos yozuvlar panjarasi	0,03 mm yoriq kengligi, 0,06 mm oraliq oralig'i
CCD tizimi	0,03 mm yoriq kengligi, 0,06 mm oraliq oralig'i
Ibratli ob'ektiv	Silikon fotosel
AC quvvat kuchlanishi	200 mm
O'lchov aniqligi	± 0,01 mm