LCP-25 eksperimental ellipsometri

Qisqacha tavsif:

Qo'lda boshqariladigan elliptik polyarimetr plyonkaning qalinligi va sinish ko'rsatkichini o'lchash uchun o'chirish usulidan foydalanadi va sinov jarayonining og'ish va og'ish burchagini qo'lda boshqaradi. Ellipsometriya qattiq substratda dielektrik yupqa plyonkani o'lchashda keng qo'llaniladi. Plyonkaning qalinligini o'lchash usulida uni eng yupqa va eng yuqori aniqlikda o'lchash mumkin.

Bizga elektron pochta xabarini yuboring

Mahsulot tafsiloti

Mahsulot teglari

Texnik xususiyatlar

Tavsif	Texnik xususiyatlar
Qalinlikni o'lchash diapazoni	1 nm ~ 300 nm
Hodisa burchagi diapazoni	30º ~ 90º, Xato ≤ 0.1º
Polarizator va analizator kesishish burchagi	0º ~ 180º
Disk burchak o'lchovi	Har bir shkala uchun 2º
Vernierning minimal o'qishi	0,05º
Optik markaz balandligi	152 mm
Ish bosqichi diametri	Φ 50 mm
Umumiy o'lchamlar	730x230x290 mm
Og'irligi	Taxminan 20 kg

Qismlar ro'yxati

Tavsif	Miqdori
Ellipsometr birligi	1
He-Ne lazeri	1
Fotoelektrik kuchaytirgich	1
Fotosurat uyasi	1
Silikon substratdagi silika plyonkasi	1
Tahlil dasturi CDsi	1
Qo'llanma	1